ZEISS METROTOM 1 的 CT 技術(shù)便捷，用戶僅需一次掃描即可有效完成復(fù)雜的測(cè)量與檢測(cè)任務(wù)，從而對(duì)接觸式和光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無(wú)法檢測(cè)到的隱蔽缺陷與內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)量、分析及檢測(cè)。